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配置
最低成本的系統是單一樣品,傳統的設備。這一系統可以替換配置成一個雙樣品或六個樣品的儀器。(如果訂購了多樣品爐子,單樣品系統也可以在日後升級為多樣品系統。)整個的樣品的圓盤轉動架被連續加熱,全部的樣品保持在同一溫度下,進行快速按順序的測量。儀器自動進行樣品圓盤轉動架的換位,精確的把每一個樣品置於光路中的測量位置。
用高品質的銻化銦探測器探測樣品後表面的溫升曲線。根據溫度範圍的不同,用置於樣品附近的熱電偶或光學高溫計來測量樣品溫度。由於爐子的溫度高均勻性,樣品的溫度保持在±0.5℃內。直接從溫度編程軟體可以得到很高的分辨讀數(±0.1℃)。
基本儀器
包括遙控的一級釹玻璃雷射器(最大能量約35焦耳),完全與爐子頂端部件互相鎖定的光纖鐳射能量引導系統,脈衝波形傳感光纖聯路,脈衝波形接受電路,內裝准直鐳射,樣品丟失探測器,控制電腦(當前型號,帶有週邊設備),具有基本分析方法(Parker,
Degiovanni, 基本Koski 方法)的軟體。
加熱爐
每一爐子元件都完全配備各自的電源,溫度控制模組,以及所有輔助子模組(過溫控制,安全互鎖等)。對應獨自的溫度範圍,提供熱電偶或光學高溫計。每一爐子裝備有可氣動鎖定的快速更換視窗。
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室溫測量系統 |
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超高溫石墨爐 |
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超高溫鎢爐
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堪塔爾高級電阻爐 |
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高速冷卻爐
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高壓爐
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低溫爐
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樣品架結構
每一結構由兩部份組成
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樣品換位元模式:包括電子控制,換位元和定位傳動裝置,及不同爐子模式的轉換介面 |
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樣品支援結構-有兩個基本的配置 |
輔助模組
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全溫度範圍內探測器 |
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真空泵/真空計-中級
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一級真空模式 |
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二級真空度模式 |
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氫氣安全淨化系統 |
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可調脈寬
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參考樣品
雖然閃光法本身是絕對方法(不需要其他的標準來定標),但是仍建議定期進行驗證實驗,來確保儀器處於正常的狀態。對於比熱的測量,必須使用標準樣品。所有的參考樣品都具有適當證明書及可安裝到電腦的資料檔案。
附件
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熔融樣品架
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粉末樣品架
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專用樣品架
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間隔環
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可選擇的軟體
FL5000標準配置提供視窗(WindowsTM)作業系統下的功能強大的操作及資料處理套裝軟體。增強的擴展(高級)軟體可以集成在主程序中,或者作為獨立的後續實驗資料分析程式。
比熱容確定程式(可加模式)
在比熱測量的模式下運行測量系統,交替的從未知樣品和標準樣品的測量中得到資料。可提供輻射率不同的修正。要求雙樣品或多樣品的安裝類型。
把閃光法技術應用於測量比熱是基於以定量的方式交替測量已知(參考)樣品和未知樣品,從兩者間的不同行為得到測量結果。達到這樣的目的,要求在閃光照射標準樣品和未知樣品的時間間隔內,閃光的能量保持穩定。使用多樣品技術的換位元操作模式,這一要求得到完全的滿足。這是因為系統在測量參考樣品之後立即測量未知樣品,間隔時間很短,又同處於完全的熱環境中。在這些條件下,所得的結果等同於或優於使用傳統方法,例如用示差掃描量熱計所得到的結果。(關於局限性的討論以及與其他廠商的同類儀器比較的討論,可以參閱技術檔71,可聯繫索求。
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附加分析程式(可加模式)
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克拉克-泰勒模型,最小二乘法,
一維,二維 |
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高級考思基模型,考慮熱損參數,科文 |
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對數模型,一維,二維, |
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非線性 一維,二維 |
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擬合優度統計 |
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雙層樣品分析 |
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雙層及三層樣品分析 |
高級後期分析軟體(獨立程式)
高級後 續分析 (獨立的程式)
是熱擴散率測量資料分析的最先進的資料操作軟體。包含一套完整的修正方法,有克拉克-泰勒模型,最小二乘法
一維及二維, 考慮熱損參數的高級考思基模型 ,科文對數模型一維及二維 ,動量 一維及二維, 非線性
一維及二維,擬合優度統計。在其他的特點中,可以容易進行假設各種參數的實驗模擬計算,對不同的結果曲線進行比較等。
導熱係數的確定
導熱係數可以通過熱擴散係數,比熱,已知的密度來計算出來。因此,運行某一個系統可以通過測量的比熱(或另外輸入的),熱擴散率,和另外輸入的密度,自動求出導熱係數。
資料輸出
輸出資料到Excel或其他的軟體(ASCII
格式)
如果以價格為考量,能在溫度達到1100℃範圍內測量小和大的樣品,應該考慮選擇FL-3000TM系統。
要了解最新規格請與我們連絡,受美國專利號6,375,349的保護
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